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產品簡介
倒置金相顯微鏡PZ-17AT提供的圖像質量和穩(wěn)固可靠的機械結構，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析以及工廠實驗室材料檢測。
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倒置金相顯微鏡PZ-17AT
高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10x/22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的各類測微尺，無限遠平場消色差超長工作距專業(yè)金相物鏡，無蓋玻片設計
觀察筒
鉸鏈式三目，視度可調節(jié)，45°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業(yè)軟件實現(xiàn)圖像分析。
調焦支架
低手位粗微調同軸調焦機構，帶有粗調松緊調節(jié)裝置，粗調每轉行程38mm，微調精度0.002mm。
照明系統(tǒng)
帶可變光闌和中心可調視場光闌的反射式柯拉照明器，自適應90V-240V寬電壓，12V50W鹵素燈，有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命。
載物臺
可加裝同軸低手位調節(jié)移動尺及載物臺延伸板，拓展應用空間，滿足不同需求客戶的使用。
倒置金相顯微鏡PZ-17AT技術參數
光學系統(tǒng) | 無限遠色差校正光學系統(tǒng) |
觀察筒 | 鉸鏈式三目頭，45°傾斜，瞳距調節(jié)范圍：54-75mm，單邊視度調節(jié)±5屈光度分光比：雙目100%，雙目:三目=80%:20% |
目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X22mm |
高眼點大視野平場目鏡PL15X/16mm | |
物鏡 | 無限遠長工作距平場消色差金相物鏡：LMPL5X /0.15/WD10.8 LMPL10X/0.3/WD10 LMPL20X/0.45 /WD4 |
無限遠長工作距平場半復消金相物鏡：LMPLFL50X/0.55 /WD7.8 LMPLFL100X/0.80 /WD2.1 | |
轉換器 | 五孔轉換器 |
調焦機構 | 粗微調同軸，粗調每轉行程：38mm，微調每轉行程：0.2 mm，調焦精度：0.002mm，帶松緊調節(jié)裝置 |
載物臺 | 固定平臺：尺寸160X250mm |
工作臺板 | 金屬載物臺板（中心孔Φ12）/金屬載物臺板（中心孔Φ25）/載物臺延伸板 |
移動尺 | 低位同軸機械式移動尺，行程120x78mm |
反射照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明器，帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄，自適應90V~240V寬電壓，12V50W鹵素燈，中心可調，,亮度連續(xù)可調 |
偏光裝置 | 起偏鏡插片 |
檢偏鏡插片,可360度旋轉 | |
濾色鏡 | Φ32mm黃/綠/藍/中性 |
攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 | 0.5X/1.0X/ C型攝像接筒 |
采用寬光束成像系統(tǒng)設計，支持26.5mm 超寬視野觀察，帶給您大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應手。
三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線100% 用于雙目觀察或三目攝影的基礎上，增加一檔20% 用于雙目觀察，80% 用于顯微攝影，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察
偏振系統(tǒng)
偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測，在半導體和PCB 檢測中，可消除雜光，細節(jié)清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)。可在偏振系統(tǒng)的基礎上加載微分干涉器，建立微分干涉襯比系統(tǒng)。
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